凯特科学研究所具有全记忆功能的 Fe 探头型 Ernix 8500 Premium / Basic 是一款紧凑型薄膜厚度计，支持厚膜涂层测量和曲率表面测量。薄膜测厚仪 Ernicus (Fe Prop (FeP)) 8500 Basic，薄膜测厚仪 Ernix (Fe Prop (FeP)) 8500 Premium具有全记忆功能的 Fe 探头型 Ernix 8500 Premium / Basic 是一款紧凑型薄膜厚度计，支持厚膜涂层测量和曲率表面测量。型号 Ernix 8500 Basic Ernix 8500 Premium Probe Fe Probe 测量范围（μm） 0 至 5000 磁性金属（铁/钢）上的非磁性薄膜 测量方法 电磁感应测量精度 0 至小于 2000μ：± 1μm + 2%、2000 μm或更大：±3.5%（2000 μm 显示为 2.00 mm） 分辨率小于 100 μm：0.1 μm 小于 1000 μm：1 μm 1000 μm 或更大：10 μm Premium 可分 3 级切换（0.01 μm、0.1 μm , 1 μm) 数量 100 点 批次数量：1 个 1300 点或更多（但是，2000 点 / 1 个补丁） 批次数量：200 个 附加功能 10 种不同设置 14 种不同设置 使用环境温度 0 至 50 °C 外形尺寸（mm）67×124×33H 重量（kg）：0.12 电源AA碱性（电池1.5V）2个