三光电子无需调整的简易型。它是一种永磁式薄膜厚度计，用于利用磁力进行磁场的显微测试。有多种测量范围类型可供选择以适应应用。永磁薄膜测厚仪 Microtest G-6 0-100 μm，永磁薄膜测厚仪 Microtest F-5 手动绕线型 0-1000 μm，永磁薄膜测厚仪 Microtest F-6 0-100 μm，永磁式薄膜厚度米Microtest S5-6 0.5~5mm，永磁式膜厚仪Microtest S10-6 2.5~10mm无需调整的简易型。它是一种永磁式薄膜厚度计，用于利用磁力进行磁场的显微测试。有多种测量范围类型可供选择以适应应用。一般涂膜用（铁基非磁性膜）--测量范围 Model G-6 0 至 100 μm F-5（手动绕线型） 0 至 1000 μm F-6 0 至 1000 μm S5-6 0.5 至 5 mm S10-6 2.5 至 10 mm 工作温度 -20 至100°C (无冷凝) 尺寸重量 218 (W) x 55 (H) x 25 (D) mm, 250g
永磁薄膜测厚仪 Microtest G-6 / F-5 / F-6 / S3-6 / S5-6 / S10-6
三光电子无需调整的简易型。它是一种永磁式薄膜厚度计，用于利用磁力进行磁场的显微测试。有多种测量范围类型可供选择以适应应用。
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