MK 科学膜厚计 Surfix-S 是一款紧凑型数字膜厚计，可根据应用替代膜厚传感器。膜厚计（传感器可更换） Surfix S膜厚计 Surfix-S 是一款紧凑型数字膜厚计，可根据应用替代膜厚传感器。使用FN型传感器时，无论是磁性金属还是非磁性金属，都可以测量各种涂层材料的膜厚。测量数据可以直接打印或传输到个人电脑。附带校准证书.型号 Surfix-S 测量范围 0 至 1500 μm、0 至 3500 μm、0 至 10 mm（取决于传感器类型） 分辨率 0.1 μm 1 μm（F 10 传感器） 精度 ±（1 μm + 3% 测量值）±（5 μm + 3) % 测量值）（F 10 传感器） 最小测量范围 5 mm x 5 mm 20 mm x 20 mm（F 10 传感器） 最小测量 曲线半径 3 mm（凸），50 mm（凹） 5 mm（凸） ), 50 mm (凹面) (F 10) 最小管径 12 mm (FN 90 °) 工作环境温度 0 to + 50 °C 尺寸/重量 机身: 140 (垂直) x 62 (水平) x 30 mm (厚) ) 约 200 g (包括干电池) ) 统计计算功能 最大 10,000 测量值平均值、标准偏差最大值、最小值显示 其他功能 80 测量数据存储器 上/下限报警、自动停止等 使用许多电池 1.5 V 碱性 AA 电池 2 节数据传输 红外 IrDA 标准设备 操作环境 湿度 0-80%