MK 科学膜厚仪 Surfix F 是一款手机大小的电磁式膜厚仪。膜厚计（电磁式）Surfix F膜厚仪 Surfix F 是一款手机大小的电磁式膜厚仪。不论是平、凸、凹，都能在短时间内准确测量磁性金属镀层厚度。测量数据可直接打印或传输到个人电脑。提供校准证书。型号 Surfix F 测量范围 0 至 1500 μm / 0 至 60 mil 分辨率 0.1 μm / 0.004 mil 或测量值的 2 ‰ 或更小 精度 ±（1 μm / 0.04 mil + 3% 测量值） 最小测量范围 5 mm x 5毫米 最小测量 弯曲半径 3 毫米（凸） 50 毫米（凹） 工作环境温度 0 到 + 50°C 尺寸/重量 机身：140（垂直）x 62（水平）x 30 毫米（厚度） 探头：14（直径） x 83 mm（长度）传感器：5mm（直径）约200g（包括干电池）统计计算功能最大10,000个测量值平均值，标准偏差最大值，最小值显示其他功能80测量数据记忆警报设置，自动停止，使用许多电池 1.5 V 2 AA 碱性电池 数据传输 Infrared IrDA 标准设备 操作环境 湿度 0-80% RH（无结露）
膜厚计（电磁式）Surfix F
MK 科学膜厚仪 Surfix F 是一款手机大小的电磁式膜厚仪。
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