• 薄膜厚度计(电磁式)Pocket-Surfix F

薄膜厚度计(电磁式)Pocket-Surfix F

所属分类: 物性探测仪器 | 发布日期:2022-04-22 09:04:04

MK 科学Pocket-Surfix F 是一款超紧凑型电磁薄膜厚度计。

产品详情

MK 科学Pocket-Surfix F 是一款超紧凑型电磁薄膜厚度计。薄膜厚度计(电磁式)Pocket-Surfix FPocket-Surfix F 是一款超紧凑型电磁薄膜厚度计。可在短时间内准确测量磁性金属上的涂层厚度 测量数据可直接打印或传输到个人计算机 随附校准证书型号 Pocket-Surfix F 测量范围 0 至 1500 μm / 0 至 60 mil 分辨率 0.1 μm / 0.01 mil 或测量值的 2% 或更低 精度 ±(1 μm / 0.04 mil + 1% 测量值) 最小测量范围 5 mm x 5 mm 最小测量曲线半径 3 mm(凸面) 30 mm(凹面) 最高测量部分温度 150°C(2 秒) 工作环境温度 0 到 +50°C 尺寸/重量 机身:99(垂直)x 44 (水平) x 24 mm (厚) ) 传感器部分: 5mm (直径) 约85g (包括干电池) 统计计算功能 最大10000 测量值平均值、标准偏差最大值、最小值显示 其他功能 80 测量数据存储器 报警设置、自动停止等 大量使用的电池 1.5 V 碱性 AAA 电池 2 块 数据传输 Infrared IrDA 标准设备 操作环境 湿度 0-80% RH(无结露)

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