凯特科学研究所具有全记忆功能的无线型 Ernix 8500 Premium / Basic 是一款紧凑型薄膜厚度计，支持厚膜涂层测量和曲率表面测量。薄膜测厚仪 Ernix (Wireless Dual Prop (WDP)) 8500 Basic，薄膜测厚仪 Ernix (Wireless Dual Prop (WDP)) 8500 Premium具有全记忆功能的无线型 Ernix 8500 Premium / Basic 是一款紧凑型薄膜厚度计，支持厚膜涂层测量和曲率表面测量。型号 Ernix 8500 Basic Premium Probe Wireless Dual Probe 测量范围 (μm) 0 至 5000 测量目标 ・磁性金属（铁/钢）上的非磁性薄膜 ・非磁性金属（非铁）上的绝缘薄膜 测量方法 电磁感应式/ vortex 电流测量精度 0 到 2000μm 以下：±1μm + 2%，2000μm 以上：±3.5%（2000μm 显示为 2.00mm） 分辨率 100μm 以下：0.1μm 1000μm 以下：1μm 1000μm 以上：10μm Premium小于 100μm 可切换 3 个阶段（0.01 μm、0.1 μm、1 μm） 数据存储器数 100 点 批次数：1 件 1300 点或更多（但是，2000 点/1 贴片） 批次数：200 件 附加功能10 种各种设置 14 种各种设置 工作环境温度 0 至 50°C 外形尺寸（mm） 67 x 124 x 33H 重量（kg）：0.12 电源 AA 碱性（电池 1.5V） 2 个 标准配件 铁底座， 3个标准板（100/1000/3000 μm））、便携包、探头连接电缆、软包、使用说明书、简单指南