凯特科学研究所测量非磁性金属上的绝缘膜厚度的膜厚仪。可以准确地测量相对较薄的薄膜厚度，例如氧化铝。涡流膜厚仪LH-373测量非磁性金属上的绝缘膜厚度的膜厚仪。可以准确地测量相对较薄的薄膜厚度，例如氧化铝。主体、标准板、标准板外壳、铝制底座（NFE-373）、探头适配器、手提箱、电池 1.5V（AA 碱性）型号 LH-373 测量方法 涡流式 非磁性金属上的绝缘膜 测量范围 0 至 1200 μm 或 47.0 mils 测量精度 小于 50 μm：±1 μm，50 μm 或更大且小于 1000 μm：±2%， 1000 μm 以上：± 3% 分辨率 100 μm 以下：0.1 μm、100 μm 以上：1 μm 符合标准 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2 / ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、 ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244, ASTM D 7091-5, ASTM E 376 数据存储器 约 39,000 点 应用程序存储器 100 点 探头 1 点接触恒压型 (LHP-J) 显示方式 数字 (LCD with背光，最小显示位数 0.1 μm) 外部输出 PC (USB 或 RS-232C) ) 电源 电池 1.5V (AA 碱性) x 4 功耗 80mW (背光不亮时) 电池寿命 100 小时 (背光不亮时) , 连续使用) 工作温度范围 0-40℃ 尺寸/质量 75 (W) × 145 (D) × 31 (H) mm, 0.34Kg